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Vi3

Vi3

X射线成像采集和分析软件
Vi3是一个可定制的软件平台,支持直接应用及定制化应用的X射线成像和控制解决方案

VI3的特点

●    硬件控制

●    图像增强和分析

●    存档

●    图像采集

●    形成报告

●    对接MES系统


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电路板的原始图像

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高级缺陷增强(ADE)过滤器图像


Vi3提供从运动控制、图像采集、分析和存档等整个工作流程中各个方面的完全可配置的控制。


为可扩展性而设计

为可扩展性而设计的Vi3可以轻松地与大多数工业级X射线源,探测器以及被检测工件操纵装置进行交互,从而扩展了您的硬件选择。

Vi3的模块化设计使您可以轻松添加选件和功能。Vi3具有三级密码保护,因此高度安全。

Vi3通过开放的体系结构来提供最大的灵活性,该体系结构拥有众多接口可对接外部,如PLC和数据库服务器。它还与DICONDE兼容,可以在企业级别上部署多个数据收集和审查站。

如果您所在位置的流程发生了更改,可以调整Vi3来修改工作流程或处理逻辑。这大大减少了重写代码的必要性,甚至在某些情况下不需要重写代码。在图像捕获、操作员检查和/或ADR分析等任务同步运行时,单个系统的工件吞吐量可以达到最大化。


VJT的Vi3软件中显示的所有带有参考射线照相的铸件:


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所有铸件的X射线参考照片显示在VJT的Vi3软件


更多零件,更优质,更低风险

先进的图像处理程序,如高级缺陷增强(ADE)、自动缺陷识别(ADR)和其他模块化功能,可实现检验过程的自动化,最大限度地提高吞吐量和质量。此功能有助于提高员工的安全性,并降低产品用户的风险。


ADR自动缺陷识别

ADR自动缺陷识别(ADR)包括图像的后处理,用于自动检测感兴趣的预编程区域的缺陷。采用ADR专有成像软件对模拟和数字射线照相数据进行评价,无需操作者干预。感兴趣的区域(ROI)是使用获取的数字射线照相数据预先编程的。然后,该软件分析每个指定区域的缺陷,并提供统计过程控制数据,并可配置为在不合格材料或过程偏差超过编程水平时自动提醒质量过程人员。自动缺陷识别可以通过可重复的、客观的检查获取图像(上)、ADR增强图像(下)和改进的过程来提高制造商的质量,但也可以通过减少劳动力来提高生产率。ADR将X线检查过程与机器视觉相结合。X射线穿透产品,成像系统生成图像进行评估,机器视觉自动分析图像和决策过程。


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Vi3图像处理


从更好的数据到更好的分析再到更好的部件


数字X射线图像可以产生65000多个灰度级。这对数据分析和解释提出了独特的挑战。传统的胶片成像需要以不同的能量、胶片速度和曝光时间拍摄多张胶片,并在灯箱上进行解释,以显示被检查零件的所有细节。相比之下,我们的数字图像捕捉更多的数据,全光谱图像,以改进操作和增强。VJT图像处理与增强技术能更有效地解决图像破译的难题。VJT开发的一些独特的模块化过滤器包括:


先进的缺陷增强(ADE)过滤器: 

使用专有算法逐像素分析单个X射线图像,根据周围区域突出显示异常和缺陷。


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原始图像/ ADE 图像


对比度和亮度拉伸/ ADE图像

 

先进的降噪(ANR)过滤器:

去除通过散射、低光子计数和类似事件引入图像的噪声,而不去除图像中的微弱特征或缺陷。


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原始图像 / ADE 图像


高级裂纹检测(ACD)过滤器:

适用于检测裂纹和类似裂纹状迹象的ADE过滤器的变体。


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寻找弹药的基底间隙检测原始图像的/使用ACD过滤器后基底间隙检测


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寻找基底间隙检测的原始图像的弹药/使用ACD过滤器基底间隙检测


X射线2.0:X射线检查的未来就是现在

我们独有的专利图像处理过滤器套件可定制和配置,以满足任何应用。从突出铸件内的气孔,到检测焊缝中的夹钨,或在婴儿食品罐中发现异物,Vi3过滤器可提高产品质量并增强产品安全性。


自动化缺陷识别(ADR)软件:

作为自动化检查的行业标准,ADR使VJT系统能够分析X射线图像,检测缺陷和判断零件(无论是操作员辅助的还是完全自动化的),使生产过程更放心。


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为ADR定义感兴趣区域的管件获取图像                                               ADR通过面积测量找出缺陷  


这只是VJ Technologies提供的专用过滤器的样本。 如有特殊要求,请联系我们。




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